FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240 测厚仪



通用規範

用途 能量色散 X 射線螢光光譜儀 (EDXRF) ,用於無損測量鍍層厚度及分析材料成份。

元素範圍 最多同時測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)中的 24 種元素

﹝使用選配的WinFTM Basic 軟件時﹞

設計理念 台式儀器,測量門向上開啟

 

 

測量方向 從下往上

 

X 射線源

X 射線源 帶鈹窗口的微聚焦鎢靶射線管

高壓 三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

孔徑(准直器) 4 個可切換准直器:圓形 Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;Ø 0.3 mm; 方形 0.05 mm x 0.05 mm。 (可按要求定制其它規格)

基本濾片 3 種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,無,鋁)

測量點 取決於測量距離及使用 的准直器大小;實際的測量點大小與視頻視窗中顯示的一致。最小的測量點大小約 Ø 0.15 mm.

測量距離,如測量腔體內部 0 ~ 25 mm,使用專利保護的DCM 功能

 

 

X 射線探測

X 射線接收器 比例接收器

樣品定位


樣品放置視頻系統

手動

高分辨 CCD 彩色攝像頭,用於查看測量位置手動聚焦

十字線刻度和測量點大小經過校準測量區域照明亮度可調


放大倍數 40x ~ 160x

 

 

 

 

 

 

 

 

 



供应岛津EDX,岛津红外光谱仪,岛津荧光光谱仪,PDA光电直读光谱仪
+86-755-81713850
[email protected]
深圳市龙华区新华苑二期1号楼2单元803
Copyright ©深圳市华得利科技有限公司, All rights reserved.  粤ICP备13051355号-1 Powered by CmsEasy